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X射線鍍層膜厚儀

描述：

X射線鍍層膜厚儀是一種高精度、非接觸式的測量設(shè)備，主要用于測量金屬電鍍層的厚度。其工作原理基于X射線穿透物體時強度衰減與物體厚度之間的相關(guān)性。該設(shè)備能夠快速、準確地測量單層、多層及合金組合物的厚度，并具備多種測量功能，適用于環(huán)保、化工、電子等多個領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號：iEDX-150WT
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-11-14
訪問量：6765

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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標題：X射線鍍層膜厚儀

產(chǎn)品概述

　　X射線鍍層膜厚儀是一種用于精密測量金屬電鍍層厚度的設(shè)備。其工作原理基于X射線穿過薄膜后，會根據(jù)薄膜的材料和厚度發(fā)生不同程度的吸收。膜越厚，吸收的X射線越多；膜越薄，則吸收的X射線越少。通過測量通過薄膜后的X射線強度的變化，可以得到薄膜的厚度信息。

　　型號：iEDX-150WT

　　生產(chǎn) 商：韓國 ISP 公司

　　特點：該型儀器采用開槽式大平臺設(shè)計，適合測試扁平狀大面積樣品，適合線路板及連接器行業(yè)的鍍層厚度管控。

(一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢

　　1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩(wěn)定性高。

　　2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)

　　3. 激光定位和自動多點測量功能。

　　4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。

　　5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。

　　6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。

　　7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。

　　8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

　　9. 軟件升級。

　　10. 無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。

　　11. 使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時間 24H 以內(nèi)，提供*保姆式服務(wù)。

　　(二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術(shù)指標

　　1. X 射線管：高穩(wěn)定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶

　　鈹窗口，陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

　　50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供良好性能。

　　2. 探測器：SDD 探測器(可選Si-Pin)

　　能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

　　3. 濾光片/可選

　　初級濾光片：Al濾光片，自動切換

　　7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

　　(三)X射線鍍層測厚儀測量原理

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